Spectroscopic Methods for Characterization of Semiconductor Nanostructures and Heterostructures

Translated title of the thesis: שיטות ספקטרוסקופיות לאפיון מבני מוליכים למחצה ננומטרים ורב-שכבתיים
  • Yury Turkulets

Student thesis: Doctoral Thesis

Date of Award2021
Original languageHebrew
Awarding Institution
  • Ben-Gurion University of the Negev
SupervisorIlan Shalish (Supervisor)

Cite this

'